【香蕉视频IOS下载】AOI设备-AOI光学自动检测设备-Wafer AOI系列
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名称：AOI设备-AOI光学自动检测设备-Wafer AOI系列
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产品特点
1、支持4/6/8英寸晶圆及切割环
2、2500万像素分辨率，AI深度神经网络加持
3、自动光学对焦、位置矫正、物镜切换
4、简易程式制作，减轻操作人员负担
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产品参数
| 型号 | Wafer AOI系列 |
| 测试对象 | 支持4/6/8英寸晶圆及切割环 |
| 载台 | 微孔陶瓷X/Y/R |
| 相机像素 | 2500万像素高分辨率 |
| 可检测平面 | AI深度神经网络加持 |
| 显微镜光学系统 | 5轮物镜转换器，配备2X，5X，10X，20X显微物镜 |
| 光学模式 | 自动光学对焦，自动位置矫正，自动物镜切换 |
| 计算效率 | 多服务器分布式计算提速 |
| 控制方式 | 简易程式制作，减轻操作人员负担 |
| 图像系统 | 彩色图像Review系统 |
| 扩展升级 | 扩展兼容12英寸晶圆及切割环 |
注：以上参数仅供参考，本公司可能对相关产品参数进行调整，如有变动，恕不再另行通知。若有不明处，欢迎来电询问。
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工作原理
AOI检测技术应运而生的背景是电子元件集成度与精细化程度高，检测速度与效率更高，检测零缺陷的发展需求，其最大优点是节省人力，降低成本，提高生产效率， 统一检测标准和排除人为因素干扰，保证了检测结果的稳定性，可重复性和准确性，及时发现产品的不良，确保出货质量。
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应用领域
适用于晶圆后道工序外观检测
精准检测晶圆图形/蚀刻不良、崩边/缺边、划伤/切割破损、异物、破损、脏污等缺陷
快速反应，专业配合，精心打造服务生态链
1年质保，终身维护，提供配套服务
承诺到达现场的时限：昆山4小时，苏州8小时，江浙沪24小时，其他区域48小时
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荣誉资质
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